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题名/责任者:

数字系统测试和可测试性设计/(美)塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedin Navabi)著 贺海文，唐威昀译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2015

ISBN及定价:

978-7-111-50154-1/CNY85.00

载体形态项:

15,368页;24cm

并列正题名:

Digital system test and testable design: using HDL models and architectures

丛编项:

电子与嵌入式系统设计译丛

个人责任者:

(美) 纳瓦比 (Navabi, Zainalabedin) 著

个人次要责任者:

贺海文 译

个人次要责任者:

唐威昀 译

学科主题:

数字系统-测试

中图法分类号:

TP271

中图法分类号:

TP

版本附注:

由Springer Science+Business Media授权出版

提要文摘附注:

本书论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。

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