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• 000 01292m2 220000313 45450

• 001 0000165786

• 005 20160514182100.0

• 010 __ |a 978-7-111-50154-1 |d CNY85.00

• 100 __ |a 20151101d2015 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a y z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 数字系统测试和可测试性设计 |A shu zi xi tong ce shi he ke ce shi xing she ji |d Digital system test and testable design: using HDL models and architectures |f (美)塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedin Navabi)著 |g 贺海文，唐威昀译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2015

• 215 __ |a 15,368页 |d 24cm

• 225 2_ |a 电子与嵌入式系统设计译丛 |A Dian Zi Yu Qian Ru Shi Xi Tong She Ji Yi Cong

• 305 __ |a 由Springer Science+Business Media授权出版

• 330 __ |a 本书论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。

• 461 _0 |1 2001 |a 电子与嵌入式系统设计译丛

• 510 1_ |a Digital system test and testable design: using HDL models and architectures |z eng

• 606 0_ |a 数字系统 |A Shu Zi Xi Tong |x 测试

• 690 __ |a TP271 |v 5

• 690 __ |a TP |v 4

• 701 _0 |c (美) |a 纳瓦比 |A na wa bi |c (Navabi, Zainalabedin) |4 著

• 702 _0 |a 贺海文 |A he hai wen |4 译

• 702 _0 |a 唐威昀 |A tang wei yun |4 译

• 801 _0 |a CN |b 91MARC |c 20151101

• 905 __ |a JN |d TP/37GH